AE-162E 초고속 칩 저항 검사
AE-MIC
,
전기전자계측기
,
저항시험기
,
AE-MIC
% 측정 : ±99.99 % [5mΩ ~ 109MΩ]
절대 측정 : 0.00mΩ ~ 200.00MΩ
절대 측정 : 0.00mΩ ~ 200.00MΩ
Product Details
검사기 AE-162E
D, F, G, J, K급 저항, 칩 저항, MELF 저항, 축 저항기의
선별기 · 테이핑 머신에 최적
※ d : 자릿수, n : 적분 시간 (msec.), 백분율 측정 : α = (100 / 표준 설정 값 mΩ) × 0.01 %, 절대 값 측정 : α = 0 (추가 ± 1d)
D, F, G, J, K급 저항, 칩 저항, MELF 저항, 축 저항기의
선별기 · 테이핑 머신에 최적
- 칩 지원(저전력 측정)
- 초고속 0.7msec(대표값)
- 열기 전력 제외 측정에 의한 고정밀도 · 고 안정성
- 레인지마다 측정치 적분 시간 설정 기능을 통해 초고속 · 고 안정 측정을 실현
- % 측정 : ±99.99 % [5mΩ ~ 109MΩ]
- 절대 측정 : 0.00mΩ ~ 200.00MΩ
- 컨텍트체크 : 측정 전 / 측정 후 / OFF 선택 가능
- RS-232C 인터페이스 표준 장비(GP-IB는 옵션)
- 설정 값 전송 기능 표준 : ( 다른 AE-162E에 같은 설정 데이터를- 전송하고 자동 설정이 가능)
- 측정 전류 / 측정 전압 이상 체크 회로 표준 장착
| 측정 범위 | 표준 값 설정 범위 | 측정전류 | 측정 정확도 | |
| 100mΩ | 5mΩ ~ 100mΩ | 100mA | SLOW | FAST |
| 1Ω | 100.1mΩ ~ 1Ω | 100mA | ± 0.02 % ± 2a ± 2d 이내 | ± 0.03 % ± 3a ± 2d ± [2 / (1 + n)] d 이내 |
| 10Ω | 1.001Ω ~ 10Ω | 50mA | ± 0.02 % ± a ± 1d 이내 | ± 0.02 % ± a ± 2d ± [2 / (1 + n)] d 이내 |
| 100Ω | 10.01Ω ~ 100Ω | 10mA | ||
| 1kΩ | 100.1Ω ~ 1kΩ | 5mA | ± 0.02 % ± 1d 이내 | ± 0.02 % ± 2d ± [1 / (1 + n)] d 이내 |
| 10kΩ | 1.001kΩ ~ 10kΩ | 0.5mA | ||
| 100kΩ | 10.01kΩ ~ 100kΩ | 50μA | ||
| 1MΩ | 100.1kΩ ~ 1MΩ | 5μA | ± 0.05 % ± 2d ± [1 / (1 + n)] d 이내 | |
| 10MΩ | 1.001MΩ ~ 10MΩ | 0.5μA | ± 0.03 % ± 1d 이내 | ± 0.2 % ± 4d ± [1 / (1 + n)] d 이내 |
| 100MΩ | 10.01MΩ ~ 109MΩ | 0.05μA | ± 0.1 % ± 2d 이내 | ─── |
|
측정 시간 |
외부 스타트 | 프리 러닝 | ||
| SLOW | FAST | SLOW | FAST | |
| 약 18msec ~ 400msec. | 약 0.7msec ~ 400msec. |
약 30 회 / 초 ~ 약 2 회 / 초 |
약 60 회 / 초 ~ 약 2 회 / 초 |
|
| 측정 단자 개방 전압 | 15V 이하 |
| 측정 종료 신호(EOC)펄스 폭 | 1 ~ 250msec. 및 연속 설정 가능 |
| 측정 방식 | 4 단자 측정 / 2 단자 측정 전환 가능 |
| 판정 값 설정 범위 | % 측정 : ± 99.99 %, 절대치 측정 : 00000 ~ 20000 |
| 사용 주위 환경 | 온도 : 0 ℃ ~ + 50 ℃, 습도 : 80 % 이하 |
| 소요 전원 | AC85V ~ 265V, 50Hz ~ 60Hz, 약 50VA |
| 외형 치수 | 333 (w) × 99 (H) × 300 (D) mm (고무발 등의 돌기 물은 포함되지 않습니다) |
| 무게 | 약 3.5kg |
|
옵션 |
· GP-IB |
| 데이터 전송 케이블 | |
| Short termination (0Ω 표준 저항기) | |
| · 변환 어댑터 (3P × 2⇒5P) |
2020-01-01 00:17:00
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