AE-162D 초고속 칩 저항 검사

D,F,G,J,K급 칩, MELF저항, 축 저항기의 선별기 테이핑 머신에 최적

• 아날로그부와 디지털 부를 분리하여 내노이즈 향상에의한 고안정도


• 극소 칩 대응 (저전력 측정)


• 초고속 0.7msec(대표값)


• 열기전력 재외 측정에 의해 고정밀도. 고안정도


• 레인지마다 측정치 적분 시간설정 기능에 의한 초고속 . 고안정 측정을 실현


• %측정 :  절대측정 : 0.00mΩ~200.00MΩ


• 컨텍트 체크 : 측정전과 측정후 (OFF 선택가능)


• RS-232C 인터페이스 표준장착 (GP-IB 옵션)


• 프린터출력 (센트로닉스 준거)


• 설정값 전송 기능 표준장착 : (다른 AE-162D에 같은 설정 데이터를 전송, 자동설정이 가능)


• 측정전류 / 측정전압 이상 체크회로

측정범위및 기본 정확도 (주위온도 23℃) 교정후 180일 [교정 후 1년 : 1.5배]

측정범위	표준값 설정 범위	측정전류	측정정확도∗
			SLOW	FAST
100mΩ	5mΩ~100mΩ	100mA	±0.02% ±2a ±2d 이내	±0.03% ±3a ±2d  ±[2/(1+n)]이내
1Ω	100.1mΩ ~ 1Ω	100mA	±0.02% ±a ±1d 이내	±0.02% ±a ±2d ±[2/(1+n)]d 이내
10Ω	1.001Ω ~ 10Ω	50mA
100Ω	10.1Ω ~ 100Ω	10mA	±0.02% ±1d 이내	±0.02% ±2d ±[1/ (1+n)]d 이내
1kΩ	100.1Ω ~ 1kΩ	5mA
10kΩ	1.001kΩ ~10kΩ	0.5mA
100kΩ	10.1kΩ ~ 100kΩ	50μA
1MΩ	100.1kΩ ~ 1MΩ	5μA		±0.05% ±2d ±[1/(1+n)]d 이내
10MΩ	1.001MΩ ~ 10MΩ	0.5μA	±0.03% ±1d 이내	±0.2% ±4d ±[1/(1+n)]d 이내
100MΩ	10.01MΩ ~ 109MΩ	0.05μA	±0.1% ±2d 이내	-

※d-digits n=적분시간 (msec) % 측정시 : α=(100/표준설정 mΩ) × 0.01%, 절대치 측정시 : α = 0(±1d 추가)
전체 차폐된 상태에서 정확도

측정시간	외부스타트		프리너링
	약18msec ~ 400msec	약 0.7msec ~ 400msec	약 30회 / 초 ~ 약 2회 / 초	약60회 / 초 ~ 약2회 /초

측정 단자 개방 전압	15v 이하
측정 종료 신호 (EOC) 펄스폭	1 ~ 250 MSEC및 연속설정 가능
측정 방식	4단자 측정 / 2 단자 측정 전환 가능
판정 값 설정 범위	%측정 : ±99.99% , 절대치측정 : 00000 ~ 20000
사용 주위 환경	온도 : 0℃ ~ +50℃,  습도 : 80% 이하
소요전원	AC85V ~ 265V , 50Hz ~ 60Hz , 약 50Va
외형치수	333(W) x 99(H) x 400(D)mm (고무발등 돌기 제외)
무게	약 3.5kg

옵션	GP-IB
	데이터전송케이블
	쇼트종단 (제로옴 표준저항기)
	변환어댑터 (3P x 2 ⇒ 5P )

※ 제품 사양은 개선에 의해 예고없이 변경될수 있습니다.