검사기 AE-162E

D, F, G, J, K급 저항, 칩 저항, MELF 저항, 축 저항기의
선별기 · 테이핑 머신에 최적

•  칩 지원(저전력 측정)


• 초고속 0.7msec(대표값)


• 열기 전력 제외 측정에 의한 고정밀도 · 고 안정성


• 레인지마다 측정치 적분 시간 설정 기능을 통해  초고속 · 고 안정 측정을 실현


• % 측정 : ±99.99 % [5mΩ ~ 109MΩ]


• 절대 측정 : 0.00mΩ ~ 200.00MΩ


• 컨텍트체크 : 측정 전 / 측정 후 / OFF 선택 가능


• RS-232C  인터페이스 표준 장비(GP-IB는 옵션)


• 설정 값 전송 기능 표준 : ( 다른 AE-162E에 같은 설정 데이터를- 전송하고 자동 설정이 가능)


• 측정 전류 / 측정 전압 이상 체크 회로 표준 장착

 

측정 범위	표준 값 설정 범위	측정전류	측정 정확도
100mΩ	5mΩ ~ 100mΩ	100mA	SLOW	FAST
1Ω	100.1mΩ ~ 1Ω	100mA	± 0.02 % ± 2a ± 2d 이내	± 0.03 % ± 3a ± 2d ± [2 / (1 + n)] d 이내
10Ω	1.001Ω ~ 10Ω	50mA	± 0.02 % ± a ± 1d 이내	± 0.02 % ± a ± 2d ± [2 / (1 + n)] d 이내
100Ω	10.01Ω ~ 100Ω	10mA
1kΩ	100.1Ω ~ 1kΩ	5mA	± 0.02 % ± 1d 이내	± 0.02 % ± 2d ± [1 / (1 + n)] d 이내
10kΩ	1.001kΩ ~ 10kΩ	0.5mA
100kΩ	10.01kΩ ~ 100kΩ	50μA
1MΩ	100.1kΩ ~ 1MΩ	5μA		± 0.05 % ± 2d ± [1 / (1 + n)] d 이내
10MΩ	1.001MΩ ~ 10MΩ	0.5μA	± 0.03 % ± 1d 이내	± 0.2 % ± 4d ± [1 / (1 + n)] d 이내
100MΩ	10.01MΩ ~ 109MΩ	0.05μA	± 0.1 % ± 2d 이내	───

※ d : 자릿수, n : 적분 시간 (msec.), 백분율 측정 : α = (100 / 표준 설정 값 mΩ) × 0.01 %, 절대 값 측정 : α = 0 (추가 ± 1d)

측정 시간	외부 스타트		프리 러닝
	SLOW	FAST	SLOW	FAST
	약 18msec ~ 400msec.	약 0.7msec ~ 400msec.	약 30 회 / 초 ~ 약 2 회 / 초	약 60 회 / 초 ~ 약 2 회 / 초

측정 단자 개방 전압	15V 이하
측정 종료 신호(EOC)펄스 폭	1 ~ 250msec. 및 연속 설정 가능
측정 방식	4 단자 측정 / 2 단자 측정 전환 가능
판정 값 설정 범위	% 측정 : ± 99.99 %, 절대치 측정 : 00000 ~ 20000
사용 주위 환경	온도 : 0 ℃ ~ + 50 ℃, 습도 : 80 % 이하
소요 전원	AC85V ~ 265V, 50Hz ~ 60Hz, 약 50VA
외형 치수	333 (w) × 99 (H) × 300 (D) mm (고무발 등의 돌기 물은 포함되지 않습니다)
무게	약 3.5kg

옵션	· GP-IB
	데이터 전송 케이블
	Short termination (0Ω 표준 저항기)
	· 변환 어댑터 (3P × 2⇒5P)